Новости

Сегодня мы продолжаем рассказ об экспериментальном оборудовании Лаборатории нейтронной физики, дополняющем парк нейтронных приборов. В №14 еженедельника мы познакомили читателей с рентгеновским дифрактометром. Представляя вторую установку, атомно-силовой микроскоп, начальник научно-экспериментального отдела нейтронных исследований конденсированных сред ЛНФ Д. П. Козленко сказал: Если рентгеновская установка помогает исследовать кристаллические материалы, то атомно-силовая микроскопия полезна для характеризации наносистем как в твердом, так и в жидком состоянии. С помощью этого метода можно оценить характерные размеры наночастиц, а затем эти данные использовать при интерпретации результатов малоуглового рассеяния нейтронов. Следует отметить, что с помощью атомно-силовой микроскопии можно исследовать только приповерхностный слой вещества, метод не всегда эффективен в случае наночастиц очень малого размера, порядка нескольких нанометров. В то же время метод малоуглового рассеяния нейтронов лишен этих ограничений и позволяет получать объемные структурные характеристики объектов, содержащих наночастицы и агрегаты, характерные размеры которых имеют порядок от нескольких до сотни нанометров.