В докладе рассматриваются результаты анализа дифракционных спектров сплава Fе₇₄Аl₂₆, измеренных на нейтронном дифрактометре высокого разрешения, с целью определения распределения по размерам структурно упорядоченных кластеров, дисперсно встроенных в структурно неупорядоченную матрицу сплава. Для этого использовано обобщение метода Шеррера, основанное на анализе профилей дифракционных пиков, определения ширин пиков на высотах 1/5 и 4/5 от максимума и предположения о справедливости гамма-распределения для размеров кластеров (метод Пелашека).

Проведено сравнение результатов, получаемых методами Шеррера, Вильямсона-Холла и Пелашека, и показано их хорошее соответствие друг другу. Предложен алгоритм вычисления физически более обоснованного логарифмически нормального распределения. Экспериментальные данные были получены на нейтронном дифрактометре по времени пролета, в связи с чем их анализ был проведен для двух вариантов переменной сканирования: в кристаллическом (d-шкала) и обратном (Н-шкала) пространствах и получены оценки возможных систематических ошибок.