В работе изучены структурные изменения в нанокристаллических образцах, вызванные облучением быстрыми тяжелыми ионами, с использованием методов просвечивающей электронной микроскопии и молекулярной динамики. Образцы облучались ионами Kr, Xe и Bi с энергиями 100-714 МэВ в широком диапазоне удельных ионизационных потерь энергии на ускорительных комплексах ИЦ-100, У-400 (ЛЯР ОИЯИ) и ДЦ-60 (АФ ИЯФ). Проведено сравнение параметров латентных треков как в изолированных, так и в неизолированных (внедренных в ферритовую матрицу) наночастицах, а также в нано- и объемных кристаллах.

(В связи с выборами на должность научного сотрудника.)